Standard

NEK EN 60749-36:2003

apr 2003 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 172,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 215,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Provides a test for determining the effects of constant acceleration on cavity-type semiconductor devices. It is an accelerated test designed to indicate types of structural and mechanical weaknesses not necessarily detected in shock and vibration test.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 17. april 2003
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: NAT
ISBN:

ICS 31.080.01
National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon

Referert av: NEK EN 60747-15:2004
Adoptert fra: EN 60749-36:2003 , 0

NEK EN 60749-36:2003

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

Extended editions Extended editions (0)

Version history Rettelser og tillegg (0)

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon