Standard

NEK EN 60749-8:2003

Publisert

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk
Tjenester

Omfang

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), it determines the leak rate of semiconductor devices.

Dokumentinformasjon

  • Standard fra NEK
  • Publisert:
  • Utgave: 1
  • Versjon: 1
  • Varetype: NAT
  • ICS 31.080.01
  • National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon