Standard

NEK IEC 60747-11:1985

jan 1985 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 1 873,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 2 341,00

There are no extended editions available for this standard

Åpne produkt

Vennligst vent
Åpne produkt

Vennligst vent

Omfang

Applies to discrete semiconductor devices, excluding optoelectronic devices. Should be read together with the generic specification to which it refers: it gives details of the Quality Assessment Procedures, the inspection requirements, screening sequences, sampling requirements, test and measurement procedures required for the assessment of semiconductor devices.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 1. januar 1985
Tilbaketrukket: 4. januar 2016
Utgave: 1.0
Versjon: 1
Varetype: NAT
ISBN:

ICS 31.080.01
National Committee TC 47/SC 47E

Produktrelasjon

Adoptert fra: IEC 61788-8:2010 ED2

NEK IEC 60747-11:1985

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud