Standard

NEK EN 60749-15:2003

apr 2003 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: NEK EN 60749-15:2010

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 344,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 429,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Describes a test used to determine whether encapsulated solid state devices used for through-hole mounting can withstand the effects of the temperature to which they are subjected during soldering of their leads, by using wave soldering or a soldering iron.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 17. april 2003
Tilbaketrukket: 1. desember 2013
Utgave: 1
Versjon: 1
Varetype: NAT
ISBN:

ICS 31.080.01
National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon

Erstattet av: NEK EN 60749-15:2010
Referert av: NEK EN 62047-4:2010
Referert av: NEK EN 60747-15:2004
Referer: IEC 60068-2-20:1979 ED4
Adoptert fra: EN 60749-15:2003 , 0

NEK EN 60749-15:2003

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

NEK EN 60749-15:2010