Standard

ISO 16700:2004

Tilbaketrukket

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: ISO 16700:2016

Forhåndsvisning

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk
Tjenester

Omfang

ISO 16700:2004 specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. This International Standard does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

Dokumentinformasjon

  • Standard fra ISO
  • Publisert:
  • Tilbaketrukket:
  • products.specs.Expires:
  • Utgave: 1
  • Versjon: 1
  • Varetype: IS
  • ICS 37.020
  • ISO TC ISO/TC 202/SC 4

Produktrelasjon

Produkt livssyklus