Standard

NEK EN 60749-6:2002

aug 2002 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: NEK EN 60749-6:2017

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 172,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 215,00

There are no extended editions available for this standard

Det er ingen tilgjengelige rettelser og tillegg for denne standarden. Eventuelle rettelser og tillegg vil bli lagt til automatisk for abonnenter.

Omfang

Aims at testing and determining the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered non-destructive.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 13. august 2002
Tilbaketrukket: 7. april 2020
Utgave: 2002-08
Versjon: 1
Varetype: NAT
ISBN:

ICS 31.080.01
National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon

Erstattet av: NEK EN 60749-6:2017
Referert av: NEK EN 60747-15:2004
Adoptert fra: EN 60749-6:2002 , 0

NEK EN 60749-6:2002

Tilgang til standarder for hele virksomheten

Fordeler med vår bedriftsløsning:

Kontakt oss i dag for et uforpliktende tilbud

NEK EN 60749-6:2017